WebbGeneral explanation of Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS).-----IONTOF homepage: www.iontof.comContact: [email protected] WebbTOF-SIMS概述. 飞行时间二次离子质谱仪(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry ,简称TOF-SIMS)是通过用一次离子激发样品表面,打出极其微量的二次离子,根据二次离子因不同的质量而飞行到 探测器 的时间不同来测定离子质量的极高 分辨率 的测量技术。. TOF-SIMS作为最前沿实用的表面分析技术之一 ...
表面分析法AES,XPS,TOF-SIMSの 最近の進歩と腐食分析への応用
WebbTime-of-Flight SIMS / TOF-SIMS. NEW PHI nanoTOF 3. This new TOF-SIMS instrument has added new unique features and enhanced automated analysis from sample loading through to measurement. Learn More. MS/MS Option. Learn More . Dynamic SIMS / D-SIMS. PHI ADEPT-1010. Learn More . Other Systems. Webb10 apr. 2024 · 基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪(maldi-tof-ms) 大分子、小分子均可 4. 同位素质谱仪 5. 二次离子飞行时间质谱仪(tof-sims) 6 气质联用仪(gc-ms) 7. 液质联用仪(lc-ms) 8. 顶空-固相微萃取气质联用仪(hs-spme-gc-ms) 9. 电感耦合等离子体质谱测 … how do ducks communicate
初心者のための TOF-SIMS 分析の勘どころ
WebbTime of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) is a highly sensitive analytical technique that describes the chemical composition and distribution of a sample surface. … WebbTOF-SIMSの特徴 最表面(1~2 nm)の情報が高感度(ppm)で得られます。 元素だけではなく有機物の化学構造情報も得られます。 成分の分布情報が高空間分解能(サブμm)で得られます。 金属、半導体、ガラス、ポリマー等の幅広い材料に対応できます。 全質量範囲の同時測定ができます(質量スペクトルからの定性が可能です)。 エッチ … WebbSIMSの測定モードには,一次イオンの照射量 の違いによってDynamic-SIMSとStatic-SIMSの二 種類があり,TOF-SIMSは後者の範疇に含まれる。 それぞれ二次イオンの発生メカニズムが異なるた め,得られる情報の質が両者で大きく異なってい る。 Dynamic-SIMSは,大量の一次イオンの照射に よって試料表面をスパッタすることにより,二 … how do ducks show affection